- 专利标题: 一种用于集成电路版图检测孤岛的方法和系统
-
申请号: CN202211633422.3申请日: 2022-12-19
-
公开(公告)号: CN115618802B公开(公告)日: 2023-03-14
- 发明人: 唐章宏
- 申请人: 北京智芯仿真科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B座一层1106室
- 专利权人: 北京智芯仿真科技有限公司
- 当前专利权人: 北京智芯仿真科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B座一层1106室
- 代理机构: 北京星通盈泰知识产权代理有限公司
- 代理商 葛战波
- 主分类号: G06F30/398
- IPC分类号: G06F30/398 ; G06F30/392
摘要:
一种用于集成电路版图检测孤岛的方法和系统,包括如下步骤:将集成电路版图中的定义为孔的部分和覆铜的部分转换为版图多边形并进行布尔操作并对其进行网格剖分,基于网格剖分生成以版图多边形的边界为约束的统一版图的约束三角形网格;基于约束三角形网格查找覆铜区域中的三角形网格并根据邻居搜索的方法将其编号;基于相同编号三角形的面积和判断孤岛;将集成电路版图转变为可网格划分的形式,提取覆铜区域内的三角形网格并根据邻居搜索的方法将其编号,并基于覆铜区域的相同编号的网格面积和来判断孔是否为孤岛,不仅避免如果不检测孤岛直接生产影响版图的可靠性,还能避免集成电路版图的孤岛数量多,密集不易识别,靠人工去查找孤岛费时费力。
公开/授权文献
- CN115618802A 一种用于集成电路版图检测孤岛的方法和系统 公开/授权日:2023-01-17