- 专利标题: 一种基于磁感应强度测量物体磁化率的装置及其测量方法
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申请号: CN202211447737.9申请日: 2022-11-18
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公开(公告)号: CN115718273B公开(公告)日: 2024-04-19
- 发明人: 俞远阳 , 张卜天 , 霍彦聪 , 尹航 , 潘东华 , 王顺 , 周泽兵
- 申请人: 华中科技大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构: 武汉华之喻知识产权代理有限公司
- 代理商 刘娅婷; 张彩锦
- 主分类号: G01R33/16
- IPC分类号: G01R33/16
摘要:
本发明公开了一种基于磁感应强度测量物体磁化率的装置及其测量方法,该装置包括:磁场机构,包括磁场调制线圈、背景磁场补偿线圈和梯度磁场补偿线圈,其中,磁场调制线圈用于给待测物体施加磁场,使其产生感应磁矩;背景磁场补偿线圈用于降低测量点的背景磁场和背景噪声,使磁场测量机构工作在量程以内并提高测量信噪比;梯度磁场补偿线圈用于补偿磁力计测量点处的梯度磁场,使磁场测量点的背景磁场梯度降低。位移机构,用于改变线圈的间距,并用于调节磁力计的空间位置,将其移动到背景磁场为“零”的区域,从而实现感应磁场的测量,进而实现待测物体磁化率的测量。本发明具有测量简单方便、测量过程快、对物体的磁化影响小的特点。
公开/授权文献
- CN115718273A 一种基于磁感应强度测量物体磁化率的装置及其测量方法 公开/授权日:2023-02-28