发明公开
CN1157915A 散射光测定装置
失效 - 权利终止
- 专利标题： 散射光测定装置
- 专利标题（英）： Scattered light measuring apparatus
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申请号： CN96123836.4申请日： 1996-12-30
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公开(公告)号： CN1157915A公开(公告)日： 1997-08-27
- 发明人: 尾崎幸洋 , 窦晓鸣 , 山口佳则 , 上野山晴三
- 申请人： 尾崎幸洋 , 株式会社京都第一科学
- 申请人地址： 日本兵库县西宫市
- 专利权人： 尾崎幸洋,株式会社京都第一科学
- 当前专利权人： 尾崎幸洋,株式会社京都第一科学
- 当前专利权人地址： 日本兵库县西宫市
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 叶恺东; 王忠忠
- 优先权： 353351/95 1995.12.30 JP
- 主分类号： G01J3/44
- IPC分类号： G01J3/44
摘要：
用作向试样照射激发光的光源装有近红外半导体激光二极管1a，接收来自拉曼散射光的接收光单元中装有以待测定试样成分的固有振动频率为透过带的中心波长的带通滤光器(6)和用于检测透过该带通滤光器(6)的拉曼散射光的Ge、InAs或InGaAs的光电二极管或由在近红外范围内具有灵敏度的光电倍增管组成的检测器7a。
公开/授权文献
- CN1075195C 散射光测定装置 公开/授权日：2001-11-21
