本发明公开了一种保护用自主芯片可靠性预计方法，涉及电力系统继电保护领域，能对保护装置芯片的失效率预计提供一定的参考。首先，基于高加速实验相关标准，对其进行加速实验设计，实验应力包括温度、湿度、电压、振动等；其次，针对不同的加速实验类型，构建相应的加速模型，计算实验条件下的加速因子，并据此预计芯片的基本失效率；最后，基于SN29500标准，得出参考条件与应用条件相对应的失效率计算模型，修正基本失效率，从而预计实际运行环境下的芯片失效率，实现了保护用自主芯片的可靠性预计。