本发明公开了一种新型继电保护装置电源影响掉电试验方法和装置，包括：掉电测试系统加载待试验的继电保护装置的配置信息；掉电测试系统在预设的延时后，判断待试验的继电保护装置的配置信息是否加载完成，及待试验的继电保护装置的功能是否正常；若所述配置信息加载正常且待试验的继电保护装置的功能正常，则开始掉电试验，掉电测试系统设置待试验的继电保护装置的第一次掉电脉冲宽度和掉电脉冲宽度间隔，根据第一次掉电脉冲宽度和掉电脉冲宽度间隔获取待试验的继电保护装置的每次掉电脉冲宽度，在待试验的继电保护装置的掉电次数大于预设的掉电次数时，结束掉电试验。可有效检测电源芯片稳定和可靠，解决现有试验方法存在的局限性问题。