Invention Publication
- Patent Title: 一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备
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Application No.: CN202211223756.3Application Date: 2022-10-08
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Publication No.: CN115932931APublication Date: 2023-04-07
- Inventor: 请求不公布姓名
- Applicant: 安徽中科超安科技有限公司
- Applicant Address: 安徽省合肥市蜀山区新产业园稻香路9号创业中心4层422室
- Assignee: 安徽中科超安科技有限公司
- Current Assignee: 中科超安科技有限公司
- Current Assignee Address: 230031 安徽省合肥市蜀山区新产业园稻香路9号创业中心4层422室
- Agency: 北京轻创知识产权代理有限公司
- Agent 朱晓彤
- Main IPC: G01T1/167
- IPC: G01T1/167

Abstract:
本发明属于辐射探测技术领域,尤其涉及一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备。该方法包括基于辐射场的物理信息以及几何信息计算每个放射源的探测器响应函数;根据每个放射源的探测器响应函数,确定每个放射源在不同空间位置上的品质因子,基于预设条件在所有品质因子中确定至少两个优选探测点;计算任意两个优选探测点之间的相关性因子;利用探测点确认法对相关性因子进行处理,得到最终探测点。本发明基于品质因子的确定避免布置方案中可能出现的探测器对源响应弱,导致探测器浪费的现象;基于相关性因子的确定避免可能出现的多个探测器对同一放射源响应敏感,无法兼顾到各个放射源的现象。
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