本发明属于金属镀层检测技术领域，为了解决X射线荧光检测法无法直接测量曲面镀层厚度的问题，提供了一种曲面样品的金属镀层检测方法及系统。其中，该方法包括利用校准后的X射线荧光检测仪，测量曲面样品的金属镀层厚度；根据金属镀层厚度测量值与设计厚度的差值，确定曲面样品的金属镀层是否合格；其中，X射线荧光检测仪的校准过程为：选取与曲面样品金属镀层设计厚度最接近的平面标准块，并利用平面标准块对未校准的X射线荧光检测仪进行初始校准；在平面标准块上垂直增设一间隔厚度为S的间隔块，再对初始校准的X射线荧光检测仪进行最终校准；其中，S＝r‑r*cosθ，r为曲面样品的曲率半径；θ为当射线从弧顶垂直入射后，射线与弧面法线的最大角度。