发明公开
- 专利标题： 一种DTC延迟单元的延迟测量方法、设备及存储介质
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申请号： CN202211724743.4申请日： 2022-12-30
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公开(公告)号： CN116112005A公开(公告)日： 2023-05-12
- 发明人: 高青 , 唐贝贝
- 申请人： 成都电科星拓科技有限公司
- 申请人地址： 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区府城大道西段399号
- 专利权人： 成都电科星拓科技有限公司
- 当前专利权人： 成都电科星拓科技有限公司
- 当前专利权人地址： 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区府城大道西段399号
- 代理机构： 成都九鼎天元知识产权代理有限公司
- 代理商 罗强
- 主分类号： H03L7/085
- IPC分类号： H03L7/085 ; H03L7/081
摘要：
本发明提供了一种DTC延迟单元的延迟测量方法、设备及存储介质，采用使能信号控制是否对DTC延迟单元的延迟进行测量，在确认进行测量时，通过步进扫描的方式生成信号完成DTC中延迟单元延迟的测量。本发明提出的延迟测量方法能够有效且准确的测量DTC的单元延迟，在传统全数字锁相环电路中，并没有出现该种测量方式。
公开/授权文献
- CN116112005B 一种DTC延迟单元的延迟测量方法、设备及存储介质 公开/授权日：2024-02-13
