发明公开
- 专利标题: 基于均匀温度场的航空构件面红外发射率测量方法及装置
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申请号: CN202211630393.5申请日: 2022-12-19
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公开(公告)号: CN116183034A公开(公告)日: 2023-05-30
- 发明人: 郭浩 , 李益文 , 赵德民 , 张浦幼森
- 申请人: 中国人民解放军空军工程大学
- 申请人地址: 陕西省西安市长乐东路甲字1号
- 专利权人: 中国人民解放军空军工程大学
- 当前专利权人: 中国人民解放军空军工程大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市长乐东路甲字1号
- 代理机构: 西安凯多思知识产权代理事务所
- 代理商 康进兴
- 主分类号: G01J5/80
- IPC分类号: G01J5/80 ; G01J5/02 ; G01J5/00
摘要:
本发明涉及一种基于均匀温度场的航空构件面红外发射率测量装置,包括红外探测器、平台、恒温箱、处理器、数据线、参考板。参考板、待测航空构件位于恒温箱内。本发明还涉及一种基于均匀温度场的航空构件面红外发射率测量方法,包括设置参考板、安装待测航空构件、建立红外探测器的视平面坐标系、采集各像素点对应区域的红外辐射亮度值、求参考板的平均红外辐射亮度、求取恒温条件下待测航空构件的平均红外辐射亮度、求取待测航空构件的红外发射率、绘制待测航空构件的面红外发射率图的过程。本发明一次测量即能生成目标表面的面红外发射率图,实现了曲面目标的发射率测量,提高了目标表面红外发射率的测量精度。