本发明公开一种光耦的预期寿命评估方法、装置及介质，所述方法包括：设置潮热条件并按照试验周期向待测光耦间歇性供电，监测所述待测光耦的敏感参数变化，得到样品数据；根据所述待测光耦的敏感参数变化，确定所述样品数据中所述待测光耦失效情况；根据所述待测光耦的失效寿命或伪失效寿命进行多次拟合，保证失效机理未发生变化的前提下从多次拟合中选出拟合优度最大的分布函数构建寿命模型；结合确认的加速模型、外场应力数据，利用所述寿命模型计算在所述外场应力数据影响下所述待测光耦的预期寿命。采用本发明，将影响光耦寿命的因素从单一的温度，延伸到温度与湿度，使实验条件更贴近真实工况，进而提高寿命预估精度。