- 专利标题: 一种干扰深度特征距离度量联合检测与抑制方法
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申请号: CN202310562271.5申请日: 2023-05-18
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公开(公告)号: CN116299219B公开(公告)日: 2023-08-01
- 发明人: 李亚超 , 韩朝赟 , 顾彤 , 邵学辉 , 钟都都
- 申请人: 西安电子科技大学
- 申请人地址: 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
- 专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
- 代理机构: 西安嘉思特知识产权代理事务所
- 代理商 王海栋
- 主分类号: G01S7/36
- IPC分类号: G01S7/36 ; G01S7/02 ; G01S7/41 ; G06N3/0464 ; G06N3/08
摘要:
本发明公开了一种干扰深度特征距离度量联合检测与抑制方法,包括:构建包括级联的特征提取网络和辅助训练网络的轻量级卷积神经网络模型;其中,特征提取网络由2个级联的卷积层构成,辅助训练网络由级联的1个转置卷积层和1个卷积层构成;利用训练数据集对轻量级卷积神经网络模型进行训练得到训练好的轻量级卷积神经网络模型;其中,训练过程中,构建特征超球面,将提取的所有特征向量约束分布于特征超球面内;修改特征提取网络中第二个卷积层的步长;利用修改后的特征提取网络计算干扰掩膜阈值;利用修改后的特征提取网络和干扰掩膜阈值对待处理的二维SAR回波信号进行干扰检测与抑制处理。本发明在网络特征级完成对干扰的检测与抑制。
公开/授权文献
- CN116299219A 一种干扰深度特征距离度量联合检测与抑制方法 公开/授权日:2023-06-23