发明公开
- 专利标题: 连接器件检测方法、电子设备及存储介质
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申请号: CN202111531962.6申请日: 2021-12-14
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公开(公告)号: CN116342456A公开(公告)日: 2023-06-27
- 发明人: 关涛 , 梅君君 , 葛成伟
- 申请人: 中兴通讯股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦
- 专利权人: 中兴通讯股份有限公司
- 当前专利权人: 中兴通讯股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦
- 代理机构: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
- 代理商 涂超群
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06T7/11 ; G06V10/26 ; G06V10/82 ; G06N3/045 ; G06N3/044 ; G06N3/0455 ; G06N3/0475
摘要:
本申请提出一种连接器件检测方法、电子设备和存储介质,涉及通信领域。本申请的连接器件包含多个插针组,所述插针组包含多个插针,所述方法包括:根据预设的连接器件的插针信息对待测的连接器件图像进行检测,获取插针位置和插针组位置;根据预先获取的图像旋转角度、所述插针信息和所述插针组位置确定插针的预期位置;根据所述插针信息、所述插针位置、所述插针的预期位置对所述连接器件进行缺陷检测。应用于连接器件缺陷检测过程中,实现自动、高效地对连接器件的缺陷进行检测。