一种金属基体及其表面处理层无损检测方法
摘要:
本发明涉及检验检测材料成分分析领域,具体地说,涉及一种金属基体及其表面处理层无损检测方法;该方法通过绘制标准样品的元素正态分布曲线和待测样品的正态分布曲线,并进行拟合得到待测样品元素与标准样品元素的相似概率,根据相似概率判断待测样品是否合格,以标准样品为参考实现了对未知材料成分的待测样品的无损检测,实现了待测样品金属基体成分、表面处理成分和表面处理厚度三种工艺控制要求的一次检测。
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