本发明公开一种薄板原位磁特性测试方法，包括：调整测试装置的高度与角度，使得测试装置靠近磁屏蔽体待测位置；将带有激励线圈的辅助磁轭，贴紧测试表面，并锁紧真空吸盘；启动数据采集程序，磁场强度线圈和磁感应强度探针在电动推杆的作用下，靠近磁屏蔽体测试表面，同时磁轭上的激励线圈通电；用数据传输软件及硬件在上位机上获取测试图线和测试数据；测试完成后，将真空吸盘锁扣打开，撤离测试装置。本发明可以实现磁屏蔽体材料原位测量，无需拆卸，便于磁屏蔽体性能监测和维护，同时操作便捷，适用性广。