发明公开
- 专利标题: 用于构建目标物的三维轮廓的宽带轮廓仪系统及方法
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申请号: CN202280006360.5申请日: 2022-06-02
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公开(公告)号: CN116615633A公开(公告)日: 2023-08-18
- 发明人: 刘锦潮 , 朴勇宇 , 陈宝珊 , 郑文湋 , 杨飞 , 郎琪
- 申请人: 爱佩仪传感信息科技有限公司
- 申请人地址: 中国香港新界白石角香港科学园二期8W大楼3楼317室
- 专利权人: 爱佩仪传感信息科技有限公司
- 当前专利权人: 爱佩仪传感信息科技有限公司
- 当前专利权人地址: 中国香港新界白石角香港科学园二期8W大楼3楼317室
- 代理机构: 深圳宜保知识产权代理事务所
- 代理商 王琴; 曹玉存
- 优先权: 32021042425.7 20211112 HK
- 国际申请: PCT/IB2022/055158 2022.06.02
- 国际公布: WO2023/084322 EN 2023.05.19
- 进入国家日期: 2023-03-10
- 主分类号: G01B11/24
- IPC分类号: G01B11/24
摘要:
三维轮廓仪包括宽带辐射源(110,10,10',10”)。干涉式量测系统(100,90)接收辐射并包括第一分光器(114,14,14',14”)和第二分光器(123,23,23',23”)、移动式时间延迟诱导反射器(116,16,16',16”)和固定式反射器(118,18,18',18”)。干涉式量测系统(100,90)利用第一分光器(114,14,14',14”)创建时间延迟光学样本辐射源和光学参考入射辐射源。静止的样本容器接收光学样本入射辐射。参考平面(140,40,40')接收光学参考入射辐射。检测器(170,70,70',70”)接收来自反射的或散射的光学样本辐射和反射的或散射的光学参考辐射的干涉信号。处理器(80,80',80”)提取参考平面(140,40,40')和样本(150,50,50')之间的光程差,并重建样本的三维形貌。