发明公开
- 专利标题: 一种柔性电子器件性能测试实验设备
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申请号: CN202310956990.5申请日: 2023-08-01
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公开(公告)号: CN116666277A公开(公告)日: 2023-08-29
- 发明人: 徐明娜 , 巴特尔 , 春兰
- 申请人: 内蒙古工业大学
- 申请人地址: 内蒙古自治区呼和浩特市新城区爱民路49号
- 专利权人: 内蒙古工业大学
- 当前专利权人: 内蒙古工业大学
- 当前专利权人地址: 内蒙古自治区呼和浩特市新城区爱民路49号
- 代理机构: 北京腾远知识产权代理事务所
- 代理商 裴双燕
- 主分类号: H01L21/67
- IPC分类号: H01L21/67 ; H01L21/687 ; H01L21/66
摘要:
本发明公开了一种柔性电子器件性能测试实验设备,包括底板、侧板、夹子,还包括移动组件、支撑组件,底板上平行安装有两块侧板,每块侧板上安装有两个呈轴对称设置的移动组件,移动组件上安装有夹子,夹子用于夹持柔性电子器件,并通过移动组件带动夹子移动来折弯柔性电子器件,以便对柔性电子器件进行测试,底板上还设置有用于支撑柔性电子器件的支撑组件。本发明通过机械控制太阳能电池芯片的弯折角度,避免人为因素影响实验结果,通过对弯折的太阳能电池芯片支撑使之达到需要测试的弧度,避免其因自身重量下陷;本发明设置有移动组件,移动气缸用于控制夹子进行平面方向移动,转动电机用于控制夹子转动,伸出气缸用于控制夹子伸出。
公开/授权文献
- CN116666277B 一种柔性电子器件性能测试实验设备 公开/授权日:2023-10-03
IPC分类: