Invention Grant
- Patent Title: 轨迹匹配程度校验方法、装置、计算机设备及存储介质
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Application No.: CN202310968031.5Application Date: 2023-08-03
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Publication No.: CN116701492BPublication Date: 2023-11-24
- Inventor: 张超 , 陶周天 , 邹炎炎
- Applicant: 智慧足迹数据科技有限公司
- Applicant Address: 北京市东城区王府井大街200号七层711室
- Assignee: 智慧足迹数据科技有限公司
- Current Assignee: 智慧足迹数据科技有限公司
- Current Assignee Address: 北京市东城区王府井大街200号七层711室
- Agency: 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司
- Agent 张欣欣
- Main IPC: G06F16/2458
- IPC: G06F16/2458 ; G06F16/29 ; G06F16/22
Abstract:
本发明提供的轨迹匹配程度校验方法、装置、计算机设备及存储介质,对真实轨迹序列和待匹配轨迹序列缩放以使序列长度小于最小搜索窗口;确定缩放后的真实轨迹序列和待匹配轨迹序列对应的对齐路径;按照预设采样比例对对齐路径进行扩大并进行插值处理以使对齐位置连续;根据搜索半径在每个对齐位置的相邻方向进行搜索,确定搜索矩阵以及真实轨迹序列和待匹配轨迹序列落入搜索矩阵内的部分目标轨迹点;根据部分目标轨迹点确定出一条新的对齐路径以及新的对齐路径的累计最短路径长度,反复迭代直到搜索矩阵的行数和列数等于真实轨迹序列和待匹配轨迹序列所组成的矩阵的行数和列数,得到匹配程度值。本发明降低了计算量,提高校验效率。
Public/Granted literature
- CN116701492A 轨迹匹配程度校验方法、装置、计算机设备及存储介质 Public/Granted day:2023-09-05
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