- 专利标题: 低压台区拓扑识别方法、装置、存储介质和芯片设备
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申请号: CN202311009324.7申请日: 2023-08-11
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公开(公告)号: CN116722658B公开(公告)日: 2023-12-29
- 发明人: 陈金雷 , 代洪光 , 冀笑伟 , 胡亚静 , 徐鲲鹏 , 张谦
- 申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,北京智芯半导体科技有限公司
- 当前专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,北京智芯半导体科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 孙凯
- 主分类号: H02J13/00
- IPC分类号: H02J13/00 ; H02J3/00 ; G06F17/16 ; G06F17/18 ; G06F18/22
摘要:
本发明公开了一种低压台区拓扑识别方法、装置、存储介质和芯片设备,低压台区拓扑识别方法包括:获取低压台区中各待识别设备的电量时序数据,得到原始电量数据;对原始电量数据进行降维处理,得到分支箱的低维电量数据和表箱的低维电量数据;根据分支箱的低维电量数据确定台区总表,更新待确定连接关系的分支箱,得到分支箱的第一连接关系,并得到末级分支箱;根据末级分支箱的低维电量数据和表箱的低维电量数据,确定表箱的第二连接关系;根据第一连接关系和第二连接关系,得到低压台区的拓扑结构。本发明实施例的低压台区拓扑识别方法,能够降低高维数据中的冗余信息造成的干扰,还能够准确得到低压台区的拓扑结构。
公开/授权文献
- CN116722658A 低压台区拓扑识别方法、装置、存储介质和芯片设备 公开/授权日:2023-09-08