- 专利标题: 一种断裂落差-走向曲线的批量制作与精准表征方法
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申请号: CN202310699797.8申请日: 2023-06-14
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公开(公告)号: CN116736380B公开(公告)日: 2024-11-05
- 发明人: 吴晓川 , 汪威 , 张跃磊 , 欧阳黎明 , 郭晓中 , 黄焱羚 , 余川
- 申请人: 重庆地质矿产研究院 , 重庆华地资环科技有限公司
- 申请人地址: 重庆市渝北区空港新城兰馨大道111号;
- 专利权人: 重庆地质矿产研究院,重庆华地资环科技有限公司
- 当前专利权人: 重庆地质矿产研究院,重庆华地资环科技有限公司
- 当前专利权人地址: 重庆市渝北区空港新城兰馨大道111号;
- 代理机构: 重庆智慧之源知识产权代理事务所
- 代理商 母先定
- 主分类号: G01V1/30
- IPC分类号: G01V1/30
摘要:
本专利涉及三维地震资料构造解释技术领域,具体是一种断裂落差‑走向曲线的批量制作与精准表征方法,包括以下步骤:S1:地震层位加密解释;S2:断裂平面分布刻画;S3:绘制目标层断裂中心线;S4:制作目标层断裂构造图:结合密集层位解释和断裂中心线,制作出以断裂中心线为基础的断裂构造图;S5:断裂构造图落差提取:将断裂构造图进行落差运算,识别出构造图上完整的落差变化分布图;S6:断裂中心线落差赋值;S7:生成断裂落差‑走向曲线。本方案通过高密度的层位追踪解释来替代断裂标志层上下盘错动点的人为定位,具有准确率高等特点,解决了现有断裂落差制作方法准确率低、计算效率低的问题。
公开/授权文献
- CN116736380A 一种断裂落差-走向曲线的批量制作与精准表征方法 公开/授权日:2023-09-12