发明公开
- 专利标题: 一种绝缘子性能检测方法、系统、存储介质及电子设备
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申请号: CN202310563182.2申请日: 2023-05-18
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公开(公告)号: CN116776194A公开(公告)日: 2023-09-19
- 发明人: 武文华 , 张虎 , 梁进祥 , 全姗姗 , 杨磊 , 徐偲达 , 张锐 , 张勤 , 袁光裕 , 周婧 , 王昱晴 , 龚宇佳 , 彭磊 , 江山 , 邓杰杰 , 李玮东 , 周志伟 , 聂霖 , 张世泽
- 申请人: 中国电力科学研究院有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清河小营东路15号
- 专利权人: 中国电力科学研究院有限公司
- 当前专利权人: 中国电力科学研究院有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清河小营东路15号
- 代理机构: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- 代理商 刘爱丽
- 主分类号: G06F18/24
- IPC分类号: G06F18/24 ; G01R31/12 ; G06F17/14
摘要:
本发明公开了一种绝缘子性能检测方法、系统、存储介质及电子设备,所述方法包括:分别获取目标绝缘子在第一预设冲击电压信号下的第一电流信号和在第二预设冲击电压信号下的第二电流信号;分别对第一预设冲击电压信号、第二预设冲击电压信号、第一电流信号和第二电流信号进行信号分解,得到对应的基波信号;基于基波信号和预设等值电路模型,确定所述目标绝缘子的等值电阻;基于目标绝缘子的等值电阻和预设标准等值电阻,确定目标绝缘子的性能检测结果。本发明通过将冲击电压作为激励以及将基波信号作为计算参数,降低了对电源设备容量的要求,使得计算得到的等值电阻更为可靠,且能够适用于多种不同型号的绝缘子,提高了检测方法的泛用性。