Invention Grant
- Patent Title: 气体分析装置和控制方法
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Application No.: CN202280012218.1Application Date: 2022-01-25
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Publication No.: CN116783481BPublication Date: 2024-11-19
- Inventor: 高桥直树
- Applicant: ATONARP株式会社
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: ATONARP株式会社
- Current Assignee: ATONARP株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京林达刘知识产权代理事务所
- Agent 刘新宇; 李靖
- International Application: PCT/JP2022/002616 2022.01.25
- International Announcement: WO2022/163635 JA 2022.08.04
- Date entered country: 2023-07-28
- Main IPC: G01N27/62
- IPC: G01N27/62

Abstract:
气体分析装置(1)具有:离子化装置(10),其生成样本气体(9)的离子流(17);分析仪(20),其对从离子化装置供给的离子流进行分析;第一离子路径(41),其将离子流从离子化装置非直线地引导到分析仪的入口;以及阻止装置(29),其通过电场或磁场来间歇性地阻止和释放经由第一离子路径到达分析仪的滤质器(25)的离子流的路径的至少一部分路径中的离子流,该气体分析装置(1)能够在阻止了离子流的状态下进行测定以及在未阻止离子流的状态下进行测定。
Public/Granted literature
- CN116783481A 气体分析装置和控制方法 Public/Granted day:2023-09-19
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