发明授权
- 专利标题: 测试系统、方法、电子设备及存储介质
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申请号: CN202311104703.4申请日: 2023-08-30
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公开(公告)号: CN116820073B公开(公告)日: 2023-11-14
- 发明人: 吕强 , 田方 , 唐尧 , 封世刚 , 李阳 , 王新蕾 , 宋博
- 申请人: 北京国电高科科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区北清路68号院2号楼1层59室
- 专利权人: 北京国电高科科技有限公司
- 当前专利权人: 北京国电高科科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区北清路68号院2号楼1层59室
- 代理机构: 北京路浩知识产权代理有限公司
- 代理商 李鑫
- 主分类号: G05B23/02
- IPC分类号: G05B23/02
摘要:
本发明提供一种测试系统、方法、电子设备及存储介质,涉及航天器技术领域,测试系统用于测试目标航天器热控系统,测试系统包括:第二控制器、电流监测器件和精密电阻器;第二控制器分别与电流监测器件和精密电阻器电连接;精密电阻器串联入目标航天器热控系统的控温回路中;电流监测器件串联入目标航天器热控系统的加热回路中;精密电阻器用于响应于第二控制器的控制调整输出温度,以模拟目标航天器热控系统的控制对象的温度变化;电流监测器件用于对加热回路中的电流进行实时监测,并将监测得到的电流数据实时发送至第二控制器。本发明提供的测试系统、方法、电子设备及存储介质,能提高对复杂控制逻辑的目标航天器热控系统的测试效率。
公开/授权文献
- CN116820073A 测试系统、方法、电子设备及存储介质 公开/授权日:2023-09-29