发明授权
- 专利标题： 质量体轨迹测量方法
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申请号： CN202311109930.6申请日： 2023-08-31
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公开(公告)号： CN116840833B公开(公告)日： 2023-11-10
- 发明人: 姚兆 , 李英顺 , 沈群书 , 史俊斌 , 张博 , 李子懿 , 李贺佳
- 申请人： 沈阳顺义科技有限公司 , 中国人民解放军陆军装甲兵学院士官学校
- 申请人地址： 辽宁省沈阳市沈阳经济技术开发区开发大路23号;
- 专利权人： 沈阳顺义科技有限公司,中国人民解放军陆军装甲兵学院士官学校
- 当前专利权人： 沈阳顺义科技股份有限公司,中国人民解放军陆军装甲兵学院士官学校
- 当前专利权人地址： 110027 辽宁省沈阳市沈阳经济技术开发区开发大路23号
- 代理机构： 北京力量专利代理事务所
- 代理商 毛婷
- 主分类号： G01S13/86
- IPC分类号： G01S13/86 ; G06V20/17 ; G06V10/62 ; G06V10/82 ; G06N3/045 ; G06N3/08
摘要：
本发明提出一种质量体轨迹测量方法，其技术方案包括：所述质量体运行轨迹采集过程包括前段采集、中段采集和末端采集，通过所述前段采集、所述中段采集和所述末端采集数据计算出轨迹曲线，所述前段采集、末段采集过程均采用高速相机，所述中段采集过程采用雷达。本发明优点在于，通过图像采集与雷达采集结合的方式，可以大大提高对质量体飞行轨迹测量的准确性，提高了对质量体效能的评估准确度。
公开/授权文献
- CN116840833A 质量体轨迹测量方法 公开/授权日：2023-10-03
