- 专利标题： 基于高斯超拉普拉斯分布的线结构光中心提取方法及装置
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申请号： CN202311135784.4申请日： 2023-09-05
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公开(公告)号： CN116862919B公开(公告)日： 2023-12-05
- 发明人: 洪汉玉 , 朱铖 , 章秀华 , 田克耘 , 吴远哲 , 高耀 , 桂传奇 , 陈思 , 梁永杰
- 申请人： 武汉工程大学
- 申请人地址： 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号
- 专利权人： 武汉工程大学
- 当前专利权人： 武汉工程大学
- 当前专利权人地址： 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号
- 代理机构： 湖北武汉永嘉专利代理有限公司
- 代理商 许美红
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06T5/00 ; G01B11/00
摘要：
本发明公开了一种基于高斯超拉普拉斯分布的线结构光中心提取方法及装置，属于三维测量领域，该方法包括：根据采集的线结构光图像，基于邻域梯度确定线结构光边界，并根据光条边界之间的差值确定线结构光的光条宽度；在光条边界区域内，对每列灰度值最大的点分别向两侧扩展两倍的线结构光条宽度以确定拟合区间；在拟合区间内对线结构光的每列灰度值进行曲线拟合，得到线结构光每列像素关于灰度值的目标曲线，曲线拟合根据高斯分布曲线和超拉普拉斯分布曲线加权后确定；根据目标曲线的极大值点确定线结构光中心坐标。该方法可避免受噪声干扰，有利于处理复杂条件下采集的线结构光条图像，并且在保证精度的前提下尽量减少数据处理(56)对比文件Xu, Xiaobin.“Line structured lightcalibration method and centerlineextraction: A review”《.Results inPhysics》.2020,第1-17页.
公开/授权文献
- CN116862919A 基于高斯超拉普拉斯分布的线结构光中心提取方法及装置 公开/授权日：2023-10-10
