本发明提供了一种内嵌式存储器及其测试方法，包括：闪存块；固件闪存块，用以存储固件；以及主控器，电性连接于主机、闪存块以及固件闪存块，主控器用以对闪存块进行扫描，以获取擦除坏块与写坏块；其中，主控器还用以响应于主机或固件的擦除测试指令，对擦除坏块进行擦除操作处理，触发相应的擦除操作失败的错误处理流程，以将擦除测试块的信息存放于坏块表中；主控器还用以响应于主机或固件的写测试指令，对写坏块进行写操作处理，触发相应的写操作失败的错误处理流程，以将写测试块的信息存放于坏块表中。通过本发明提供的内嵌式存储器及其测试方法，以保证错误处理流程的有效性。