Invention Grant
- Patent Title: 一种针对邻域内列式坏点的图片坏点检测及校正方法
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Application No.: CN202310981250.7Application Date: 2023-08-04
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Publication No.: CN116886894BPublication Date: 2024-03-15
- Inventor: 黄宇杰 , 王明宇
- Applicant: 上海宇勘科技有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区自由贸易试验区盛荣路188弄5号207A室
- Assignee: 上海宇勘科技有限公司
- Current Assignee: 上海宇勘科技有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区自由贸易试验区盛荣路188弄5号207A室
- Agency: 北京广技专利代理事务所
- Agent 赵洪磊
- Main IPC: H04N17/02
- IPC: H04N17/02 ; H04N25/77
Abstract:
本发明提供了一种针对邻域内列式坏点的图片坏点检测及校正方法,其中,图片坏点检测方法包括:获取目标图片,并确定目标图片类型;针对目标图片进行像素值提取,得到图片像素数据;在图像像素数据中获取检测点邻域范围内的像素数据块;根据目标图片类型利用像素数据块中相邻像素值针对检测点进行坏点检测,得到坏点检测结果。本发明提出一种针对邻域内多列坏点的图片坏点检测及校正方法,通过分析在一定大小的窗口内中心像素与其他相邻像素的像素值差异进行坏点检测及校正,使得图片中的坏点与周围整体匹配,提高图片的视觉呈现效果。
Public/Granted literature
- CN116886894A 一种针对邻域内列式坏点的图片坏点检测及校正方法 Public/Granted day:2023-10-13
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