- 专利标题: 测试任务的缺陷处理方法、缺陷处理装置及存储介质
-
申请号: CN202311183333.8申请日: 2023-09-14
-
公开(公告)号: CN116932413B公开(公告)日: 2023-12-19
- 发明人: 余伟 , 刘鑫
- 申请人: 深圳市智慧城市科技发展集团有限公司 , 深圳市智城软件技术服务有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市福田区华富街道莲花一村社区皇岗路5001号深业上城(南区)T1栋12层
- 专利权人: 深圳市智慧城市科技发展集团有限公司,深圳市智城软件技术服务有限公司
- 当前专利权人: 深圳市智慧城市科技发展集团有限公司,深圳市智城软件技术服务有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市福田区华富街道莲花一村社区皇岗路5001号深业上城(南区)T1栋12层
- 代理机构: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
- 代理商 张楠
- 主分类号: G06F11/36
- IPC分类号: G06F11/36
摘要:
本发明公开了测试任务的缺陷处理方法、缺陷处理装置及存储介质,其中,所述方法包括以下步骤:获取当前测试对应的缺陷信息,并将所述缺陷信息发送至缺陷管理平台;接收所述缺陷管理平台基于所述缺陷信息反馈的回归测试基础数据;根据所述缺陷信息确定回归测试用例,并基于所述回归测试用例对所述回归测试基础数据进行测试;当测试未通过时,跳转执行所述获取当前测试对应的缺陷信息,并将所述缺陷信息发送至缺陷管理平台的步骤。本发明通过将测试任务对应的缺陷信息发送到缺陷管理平台后,接收缺陷管理平台对应的回归测试数据,进而进行缺陷信息的回归测试,在该过程中,测试平台能够实时跟进缺陷信息的生命周期,进而提高存在缺陷的UI测试效率。
公开/授权文献
- CN116932413A 测试任务的缺陷处理方法、缺陷处理装置及存储介质 公开/授权日:2023-10-24