测试任务的缺陷处理方法、缺陷处理装置及存储介质
摘要:
本发明公开了测试任务的缺陷处理方法、缺陷处理装置及存储介质,其中,所述方法包括以下步骤:获取当前测试对应的缺陷信息,并将所述缺陷信息发送至缺陷管理平台;接收所述缺陷管理平台基于所述缺陷信息反馈的回归测试基础数据;根据所述缺陷信息确定回归测试用例,并基于所述回归测试用例对所述回归测试基础数据进行测试;当测试未通过时,跳转执行所述获取当前测试对应的缺陷信息,并将所述缺陷信息发送至缺陷管理平台的步骤。本发明通过将测试任务对应的缺陷信息发送到缺陷管理平台后,接收缺陷管理平台对应的回归测试数据,进而进行缺陷信息的回归测试,在该过程中,测试平台能够实时跟进缺陷信息的生命周期,进而提高存在缺陷的UI测试效率。
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