发明公开
- 专利标题: 一种用于SAR ADC中split开关时序的电容失配自校准方法
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申请号: CN202310671704.0申请日: 2023-06-07
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公开(公告)号: CN116938240A公开(公告)日: 2023-10-24
- 发明人: 沈易 , 刘隆仁 , 李昂扬 , 丁瑞雪 , 刘术彬 , 朱樟明
- 申请人: 西安电子科技大学重庆集成电路创新研究院
- 申请人地址: 重庆市沙坪坝区西永微电园研发楼3期1号楼1单元
- 专利权人: 西安电子科技大学重庆集成电路创新研究院
- 当前专利权人: 西安电子科技大学重庆集成电路创新研究院
- 当前专利权人地址: 重庆市沙坪坝区西永微电园研发楼3期1号楼1单元
- 代理机构: 西安嘉思特知识产权代理事务所
- 代理商 王丹
- 主分类号: H03M1/10
- IPC分类号: H03M1/10 ; H03M1/46
摘要:
本发明公开了一种用于SAR ADC中split开关时序的电容失配自校准方法,包括:设定校准起始位;在校准采样阶段:将待校准电容CL(q+1)p的下极板由电源电压切换至接地端,待校准电容CL(q+1)ns的下极板由接地端切换至电源电压,并获取电容上极板的电压变化量;校准量化阶段:由最低位电容到第q位电容组成的校准子DAC进行量化得到数字码,并根据数字码得到当前待校准电容的校准值;依次校准第二电容阵列和第四电容阵列中的电容,当第二电容阵列和第四电容阵列中的电容均校准完后,计算实际级间增益并根据实际级间增益校准第一电容阵列和第三电容阵列中的电容;计算并存储级间增益误差和校准系数。