Invention Publication
- Patent Title: 一种射频参数测量和校准方法
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Application No.: CN202310904875.3Application Date: 2023-07-21
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Publication No.: CN116961788APublication Date: 2023-10-27
- Inventor: 张吉太 , 何辉 , 牛进 , 刘友容
- Applicant: 上海道生物联技术有限公司
- Applicant Address: 上海市嘉定区皇庆路333号4幢五层
- Assignee: 上海道生物联技术有限公司
- Current Assignee: 上海道生物联技术有限公司
- Current Assignee Address: 上海市嘉定区皇庆路333号4幢五层
- Main IPC: H04B17/21
- IPC: H04B17/21 ; H04B17/29

Abstract:
本发明提供一种射频参数测量和校准方法,包括:测试主机向接收机发射射频频谱,以供所述接收机测量出接收频谱和自身频谱的偏移量,并基于所述偏移量进行功率和频率值校准;基于校准后的功率和频率值,进行灵敏度测试和休眠电流测试。本发明实施例提供的射频参数测量和校准方法,通过发射特殊的射频频谱,来让接收机快速测量出接收频谱和自身频谱的偏移量并完成校准纠偏,解决射频硬件因晶振、晶振负载电容和芯片制造差异带来的发射频率和功率的不一致现象,从而提升射频产品的出厂良率,控制产品硬件性能指标在一个设定的范围内。
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