发明公开
- 专利标题： 一种红外探测器测试分析方法
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申请号： CN202310775471.9申请日： 2023-06-28
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公开(公告)号： CN116972987A公开(公告)日： 2023-10-31
- 发明人: 谢莉莉 , 孙启扬 , 谢圣文 , 柴瑞青 , 樊奔 , 戴立群 , 卜洪波 , 程甘霖 , 潘卫军 , 王耕耘 , 吴淞波 , 姚瑶 , 张旭 , 韩立镪 , 张芮萌 , 陈瑞明
- 申请人： 北京空间机电研究所
- 申请人地址： 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱
- 专利权人： 北京空间机电研究所
- 当前专利权人： 北京空间机电研究所
- 当前专利权人地址： 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱
- 代理机构： 中国航天科技专利中心
- 代理商 陈鹏
- 主分类号： G01J5/90
- IPC分类号： G01J5/90
摘要：
一种红外探测器测试分析方法，通过分别获取待测红外探测器的归一化相对光谱响应曲线、表面漏电流密度、激活能、横向扩散长度进行红外探测器综合性能分析，能够充分评价红外探测材料、制备工艺与器件性能，作为改进器件质量的关键迭代优化依据，提出更准确的响应光谱测试方法，可排除暗电流和背景辐射的影响，更适用于红外光子探测器，包括光电导型和光伏型光子探测器。
