本发明提供了一种继电器过零通断参数的检测方法，具体包括如下步骤：S1、继电器触点的波形和AC过零的波形通过整流光耦隔离电路输入MCU，然后通过MCU进行逻辑检测，直接换算为具体直观的时间参数值；S2、MCU逻辑检测，计算继电器触点的导通点时间和断开点时间，并与过零点的时间参数进行对比，筛选出超范围的产品。本发明可以实现继电器过零通断参数的自动测试，读取继电器过零通断参数，预置参数范围，将继电器触点通、断与过零点时间不符合要求的产品快速筛选出来，降低测试成本，提高生产效率。