一种二次设备测试方法、装置及存储介质
Abstract:
本发明公开了一种二次设备测试方法、装置及存储介质,其中方法包括:基于规范作业指导书标准,设定待测试二次设备所有测试条目的评估逻辑以及评估逻辑对应的状态序列详情;根据测试请求,在预设查询范围内查询当前测试条目的评估逻辑对应的状态序列详情,并记录在预设查询范围内的报文信息;遍历每一评估逻辑,对每一评估逻辑进行变位标记;对变位标记后的评估逻辑,根据测试条目的状态序列详情进行分组,得到评估逻辑分组数据;将报文信息按照信号点切面进行分组,得到报文信息分组信息;比对评估逻辑分组数据和报文信息分组数据,根据比对结果得到待测试二次设备的测试结果。本发明能够有效提高二次设备测试的准确性和可靠性。
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