发明公开
- 专利标题: 基于电磁场动量的电学层析成像方法及其信号检测装置
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申请号: CN202310985588.X申请日: 2023-08-07
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公开(公告)号: CN117007646A公开(公告)日: 2023-11-07
- 发明人: 刘国强 , 刘婧 , 杨一丹
- 申请人: 中国科学院电工研究所 , 齐鲁中科电工先进电磁驱动技术研究院
- 申请人地址: 北京市海淀区中关村北二条6号;
- 专利权人: 中国科学院电工研究所,齐鲁中科电工先进电磁驱动技术研究院
- 当前专利权人: 中国科学院电工研究所,齐鲁中科电工先进电磁驱动技术研究院
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村北二条6号;
- 代理机构: 北京科迪生专利代理有限责任公司
- 代理商 江亚平
- 主分类号: G01N27/00
- IPC分类号: G01N27/00 ; G06F17/16 ; G06T11/00
摘要:
本发明公开了一种基于电磁场动量的电学层析成像方法及其信号检测装置,以电流源或电荷源激励检测模式为例介绍ET‑EMM。ET‑EMM方法的步骤为,在电流源或电荷源激励下,针对测量区域的边值问题进行求解,获得成像区域的电磁场空间分布F;根据电磁场空间分布F构建ET‑EMM灵敏度矩阵;再通过信号检测部获得电磁传感器接收单元的电场强度或磁感应强度;最后利用ET‑EMM灵敏度矩阵进行图像重建。ET‑EMM的信号检测装置主要包括:信号发生部、电磁传感器、信号检测部、信号放大部,以及信号采集和成像算法部。本发明的ET‑EMM方法获取了比电学层析成像测量参数更高阶的张量信息,进而提高了电磁特性参数分布图像的分辨率。