Invention Publication
- Patent Title: 一种六氟化硫泄漏判断方法、系统及存储介质
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Application No.: CN202310863823.6Application Date: 2023-07-14
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Publication No.: CN117073934APublication Date: 2023-11-17
- Inventor: 彭天海 , 蔡萱 , 瞿子涵 , 张驰 , 刘平 , 石剑波 , 张莹 , 何宇航
- Applicant: 国网湖北省电力有限公司电力科学研究院 , 国网湖北省电力有限公司 , 国家电网有限公司
- Applicant Address: 湖北省武汉市洪山区徐东大街227号; ;
- Assignee: 国网湖北省电力有限公司电力科学研究院,国网湖北省电力有限公司,国家电网有限公司
- Current Assignee: 国网湖北省电力有限公司电力科学研究院,国网湖北省电力有限公司,国家电网有限公司
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市洪山区徐东大街227号; ;
- Agency: 武汉楚天专利事务所
- Agent 胡盛登
- Main IPC: G01M3/32
- IPC: G01M3/32 ; G01N25/12

Abstract:
本发明提供一种六氟化硫泄漏判断方法、系统及存储介质,方法包括以下步骤:测量六氟化硫气室密度;判断六氟化硫气室密度是否下降,若是测量气体温度T和气体压力P1;判断气体温度T是否高于六氟化硫的液化温度,若否,测量其余时间段相同气体温度T的环境下气体压力P2;比较|P1‑P2|与P误差的大小,P误差是密度表误差容许值,若|P1‑P2|﹤P误差则判定六氟化硫气体液化,若|P1‑P2|≥P误差则判定六氟化硫气体发生液化和泄漏双重作用。本申请避免因六氟化硫低温液化引起压力下降导致的泄漏情况误判断,该方法简单易操作,可以提高六氟化硫气体绝缘设备的稳定性和可靠性。
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