本发明涉及工业质检技术领域，提供一种基于OpenGL的缺陷生成方法及装置，方法包括：获取良品图和缺陷样本图，并生成缺陷样本图的第一颜色贴图和第一法线贴图；生成良品图的掩膜图，在掩膜图的掩膜区域任意选择缺陷位置，并得到第二颜色贴图和第二法线贴图；在OpenGL渲染工作室中，生成具有顶点数据的3D平面；通过OpenGL着色器对良品图、第二颜色贴图、第二法线贴图和3D平面及其顶点数据进行处理得到待渲染图；对待渲染图进行渲染得到目标缺陷图。由此，通过OpenGL对良品图、掩膜图的颜色贴图和法线贴图进行渲染处理生成目标缺陷图，渲染效率高，可以在保证缺陷生成效果的同时提升缺陷生成效率。