本发明公开了一种驱动芯片死区时间的测量装置、系统和方法，驱动芯片死区时间的测量装置包括：可调电阻电路，与驱动桥臂的中点连接，用于在上桥臂导通、下桥臂关断时，为当前通路提供第一预设阻值的电阻，以及在上桥臂关断、下桥臂导通时，为当前通路提供第二预设阻值的电阻，其中，中点为上桥臂与下桥臂之间的连接点；第一直流电源，连接在可调电阻电路与地之间，第一直流电源用于提供第一直流电压；波形采集器，与中点连接，用于采集中点输出的波形。本发明实施例的驱动芯片死区时间的测量装置，操作简单，测量结果直观，并且，能够灵活调整上升/下降沿幅值以及内部控制开关流过的电流，便于全面的评估死区时间。