发明公开
- 专利标题: 一种测井地层密度的校正方法及校正装置
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申请号: CN202310839954.0申请日: 2023-07-10
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公开(公告)号: CN117111179A公开(公告)日: 2023-11-24
- 发明人: 请求不公布姓名
- 申请人: 中科超安科技有限公司
- 申请人地址: 安徽省合肥市蜀山区甘泉路398号新城电力大厦
- 专利权人: 中科超安科技有限公司
- 当前专利权人: 中科超安科技有限公司
- 当前专利权人地址: 安徽省合肥市蜀山区甘泉路398号新城电力大厦
- 代理机构: 北京中北知识产权代理有限公司
- 代理商 石锐
- 主分类号: G01V13/00
- IPC分类号: G01V13/00 ; E21B49/00 ; G01V5/12 ; G06F30/20 ; G06F111/10
摘要:
本申请涉及一种测井地层密度的校正方法及校正装置,属于石油勘探领域,其中,测井地层密度的校正方法包括确定针对目标地层的多个环境干扰因素中任意两个是否存在耦合关系;在不存在耦合关系的情况下,按照第一校正顺序和预设的第一校正规则来校正目标地层的测量密度;在存在耦合关系的情况下,按照第二校正顺序校正和预设的第二校正规则来校正目标地层的测量密度。本申请提供的实施例,先确定多个环境干扰因素中任意两个环境干扰因素是否存在耦合关系,然后针对是否存在耦合关系执行不同的校正手段,以消除环境干扰因素对测井密度的负面影响,降低数据失真程度,进而提高地层密度校正后的准确度,最后得到较为精准的地层密度。