发明公开
- 专利标题: 一种基于RFID技术的试验测试设备管理维护系统
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申请号: CN202310281814.6申请日: 2023-03-18
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公开(公告)号: CN117114643A公开(公告)日: 2023-11-24
- 发明人: 方俊雅 , 凌思睿 , 段娜 , 蔡睿 , 刘万龙 , 王瑞 , 王晓宇
- 申请人: 北京航天试验技术研究所
- 申请人地址: 北京市丰台区云岗田城中里1号院
- 专利权人: 北京航天试验技术研究所
- 当前专利权人: 北京航天试验技术研究所
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区云岗田城中里1号院
- 主分类号: G06Q10/20
- IPC分类号: G06Q10/20 ; G06K17/00
摘要:
本发明公开了一种基于RFID技术的试验测试设备管理维护系统,属于物联网领域,其包括以下步骤:使用EPC编码规则对试验测试设备进行编码;使用RFID技术制作电子标签;使用电子标签和扫描设备将试验测试设备信息录入信息管理系统;通过试验测试设备的最新状态信息实现报警管理;通过RFID读写器获取试验测试设备的位置信息;通过加密和解密算法确保试验测试设备数据的安全性。