本发明提供了一种在役GIS设备X射线检测缺陷尺寸测量校准方法和装置。所述方法包括：获取X射线检测图谱，确定图谱中缺陷尺寸的像素数量；获取X射线机发出的X射线的照射角度和X射线探测器的翻转状态；根据照射角度和翻转状态，对像素数量进行修正；根据修正后的像素数量，确定被检工件的缺陷尺寸。本发明通过对X射线垂直透照以及X射线束中心偏移、探测器翻转、X射线束中心偏移且探测器翻转非垂直透照情况下的几何关系进行分析，能够对X射线束偏移、探测器翻转等典型非垂直透照下的缺陷尺寸进行修正，实现了全透照条件下缺陷尺寸的测量与校准。