发明公开
- 专利标题: 一种CdZnTe光子计数探测器像素计数率校正方法
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申请号: CN202311423917.8申请日: 2023-10-31
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公开(公告)号: CN117148416A公开(公告)日: 2023-12-01
- 发明人: 李颖锐 , 康阳 , 查钢强 , 李佩政 , 李清沛 , 武蕊 , 吴森 , 程朝阳 , 魏登科
- 申请人: 深圳翱翔锐影科技有限公司 , 西北工业大学
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南九道45号西北工业大学三航科技大厦1705
- 专利权人: 深圳翱翔锐影科技有限公司,西北工业大学
- 当前专利权人: 深圳翱翔锐影科技有限公司,西北工业大学
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南九道45号西北工业大学三航科技大厦1705
- 代理机构: 深圳昊生知识产权代理有限公司
- 代理商 屈蘅
- 主分类号: G01T1/36
- IPC分类号: G01T1/36 ; G01T7/00 ; G06F16/906
摘要:
本发明涉及探测器像素校正技术领域,特别是一种CdZnTe光子计数探测器像素计数率校正方法,预设探测器各像素的计数率线性区间,并确保各像素在成像过程中探测的X射线剂量均在线性区间内;在各管电压进行全阈值扫描,得到能谱的积分图,再基于所述积分图用前一个阈值下的计数率减去后一个阈值下的计数率,得到各能谱的微分图;根据各能谱的微分图,检索得到探测器在各管电压下的最大能量对应的阈值,并进行最小二乘直线拟合,即得到能量与阈值之间的表达式;根据所述能量与阈值之间的表达式为光子计数探测器选择最适阈值,通过本方法能够消除探测器中的非线性响应和计数率的偏差,提高能谱测量的准确性和可靠性。
公开/授权文献
- CN117148416B 一种CdZnTe光子计数探测器像素计数率校正方法 公开/授权日:2024-01-19