发明授权
- 专利标题: 一种集成电路引线框架过程检测工艺
-
申请号: CN202311448182.4申请日: 2023-11-02
-
公开(公告)号: CN117169025B公开(公告)日: 2024-02-09
- 发明人: 康亮 , 李军强 , 姚彦斌
- 申请人: 天水华洋电子科技股份有限公司
- 申请人地址: 甘肃省天水市天水经济技术开发区社棠工业园
- 专利权人: 天水华洋电子科技股份有限公司
- 当前专利权人: 天水华洋电子科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 甘肃省天水市天水经济技术开发区社棠工业园
- 代理机构: 合肥吾知非知识产权代理事务所
- 代理商 水东升
- 主分类号: G01N3/36
- IPC分类号: G01N3/36 ; G01N3/04 ; G01N3/02
摘要:
本发明涉及引线框架过程检测技术领域,尤其是一种集成电路引线框架过程检测工艺,包括安装座,还包括:夹持部,安装于安装座的顶部,用于对待检测的引线框架进行夹持;移动单元,安装于安装座的顶部,用于带动夹持部移动指定距离;在调节单元对引线框架两侧进行夹紧的过程中,调节单元与引线框架的两个侧边接触,在检测到引线框架处于倾斜状态后,调节单元通过对引线框架的两侧同时施加一个挤压力,以使得引线框架在挤压力的作用下从倾斜状态转变为与夹持部的移动轨迹平行的状态,从而对引线框架进行摆正,并在两个挤压力的作用下将引线框架的两侧进行夹紧。
公开/授权文献
- CN117169025A 一种集成电路引线框架过程检测工艺 公开/授权日:2023-12-05