本发明公开了一种键盘键帽缺陷的检测设备及其检测方法，包括底板，所述底板的外部设置有分料机构，所述分料机构包括输送带一，所述输送带一设置在底板的外表面，所述输送带一的机架上设置有连板，所述连板的外部设置有检测组件，所述输送带一的机架固定连接有固条，所述固条的外表面固定连接有圆圈，所述圆圈的内壁活动连接有隔条，所述隔条的外表面分别与连板的外表面以及圆圈的内壁活动连接，涉及检测设备技术领域，解决了现有检测设备对键帽进行检测时，存在检测工序重复，导致检测工作费时费力、效率降低，且通过光学成像对键盘键帽同时检测，检测难度增大，且增大了检测系统的负载和功耗，从而提升了检测成本的问题。