本发明公开了一种混合K边吸收‑X射线荧光分析方法，采用X射线照射待测样品，以使待测样品产生铀K边界吸收，以及激发出待测样品铀、钚的L系特征荧光，根据经过待测样品铀K边界吸收后的X射线获得待测样品中铀的吸收谱，根据吸收谱和X射线空白谱从而得到铀浓度；根据待测样品铀、钚的L系特征荧光获得待测样品中铀、钚的L系荧光峰面积关系，从而得到铀/钚浓度比，进而获得待测样品的钚浓度。本发明的混合K边吸收‑X射线荧光分析方法能够破除应用范围限制，有效提高分析结果准确度，并有效降低X射线散射影响。本发明还提供一种混合K边吸收‑X射线荧光分析设备。