本发明涉及强U干扰下Pu同位素激光共振电离质谱分析方法及系统；解决现有Pu激光共振电离质谱测量方法存在同位素歧视效应严重、探测效率低、比值测量精密度低、测量误差大的问题；方法包括步骤1：基于待测Pu溶液制备样品源，待测Pu溶液中含有238U以及Pu同位素，Pu同位素包括238Pu、239Pu以及240Pu；步骤2：基于Pu原子的能极差设置激光共振电离质谱系统中三个激光器出射激光的波长范围分别为586.648nm～586.660nm、606.175nm～606.187nm以及642.716nm～642.728nm，设置激光焦点聚焦于激光共振电离质谱系统中的样品源正前方1‑2mm处，焦点位置处的激光束束腰直径为0.8‑1.2mm；步骤3：基于步骤2，对样品源进行238Pu、239Pu、240Pu的质谱测量，完成强U干扰下Pu同位素激光共振电离质谱分析；本发明还提出实现上述方法的系统。