- 专利标题: 基于非线性频率变换的不可见光参数测量方法和系统
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申请号: CN202311471503.2申请日: 2023-11-07
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公开(公告)号: CN117213626B公开(公告)日: 2024-01-26
- 发明人: 张磊 , 潘伟巍 , 赵儒臣 , 董金岩 , 付小虎
- 申请人: 上海频准激光科技有限公司
- 申请人地址: 上海市嘉定区徐行镇徐潘路1918号2幢2层D区
- 专利权人: 上海频准激光科技有限公司
- 当前专利权人: 上海频准激光科技有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市嘉定区徐行镇徐潘路1918号2幢2层D区
- 代理机构: 北京锺维联合知识产权代理有限公司
- 代理商 原春香
- 主分类号: G01J1/42
- IPC分类号: G01J1/42 ; G01J1/02 ; G01S7/497 ; G01S17/42
摘要:
本发明公开一种基于非线性频率变换的不可见光参数测量方法和系统,涉及光学参数检测技术领域。所述不可见光束参数的测量方法包括:形成包含待测的不可见光束的入射光,并使其入射一光学晶体;所述入射光穿过所述光学晶体转换为出射光;测量所述出射光中包含的可见光的参数,基于所述可见光的参数获得所述不可见光的参数;其中,所述可见光的光斑中心位置和待测不可见光的光斑中心位置始终相同。本发明的测量方法及系统不需要复杂工艺,光路简单,设备要求不高,通过简单的光学器件实现了不可见光束的高准确率的测量。
公开/授权文献
- CN117213626A 基于非线性频率变换的不可见光参数测量方法和系统 公开/授权日:2023-12-12