本申请提供了一种内存芯片测试设备及方法，通过确定所述数据测试时间内的内存芯片临界区间值，确定所述内存芯片数据容量的内存芯片鉴别系数，从而确定所述数据测试时间的内存芯片汇聚量，根据所述数据测试时间对所述内存芯片汇聚量进行容量分段间隙量化，得到内存芯片间隙因子，对所有的区间温度均值进行温度邻近差异化，得到区间温度邻近差异系数，根据所述内存芯片间隙因子和所述区间温度邻近差异系数确定所述内存芯片汇聚量的内存芯片容量纠察量，根据所述内存芯片容量纠察量和所述内存芯片汇聚量值确定内存芯片测试容量值，将所述内存芯片测试容量值作为内存芯片的实际容量值，可提高内存芯片测试设备在测试内存芯片容量时的准确度。