发明公开
- 专利标题: 星载高分宽幅扫描SAR自主成像路径和参数规划方法及系统
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申请号: CN202311065861.3申请日: 2023-08-22
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公开(公告)号: CN117310609A公开(公告)日: 2023-12-29
- 发明人: 余辉 , 陈德相 , 黄卫东 , 许建峰 , 孟宪超 , 刘兰兰 , 苏小明 , 孙星
- 申请人: 上海卫星工程研究所
- 申请人地址: 上海市闵行区元江路3666号
- 专利权人: 上海卫星工程研究所
- 当前专利权人: 上海卫星工程研究所
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区元江路3666号
- 代理机构: 上海段和段律师事务所
- 代理商 郭国中
- 主分类号: G01S7/02
- IPC分类号: G01S7/02 ; G01S13/90
摘要:
本发明提供了一种星载高分宽幅扫描SAR自主成像路径和参数规划方法及系统,可用于星载高分宽幅扫描SAR多目标下在轨自主成像路径及参数规划。该方法包括步:(1)星载高分宽幅扫描SAR收到自主任务成像目标后,对每个目标点进行参数的计算,剔除不在成像带宽中的目标点;(2)进行成像任务次数的规划;(3)进行每次成像任务中目标选取;(4)根据进行每次成像任务的路径规划和成像时间段划分;(5)进行单次成像时间段成像起始波位计算;(6)使用前两步计算结果执行SAR成像任务,开展目标自主任务观测。本发明的应用可以有效地提高星载高分宽幅扫描SAR自主任务规划效率,提升星载高分宽幅扫描SAR目标普查、监测应用效能。