本发明公开了一种电子设备抗电磁干扰能力测试系统和方法，系统包括：干扰信号发生装置；电波暗室，包括发射天线，发射天线与干扰信号发生装置连接，电波暗室用于放置被干扰电子设备，且被干扰电子设备置于发射天线的近场范围内；控制装置，用于控制干扰信号发生装置发出干扰信号至发射天线，以使发射天线向被干扰电子设备提供超过预设强度的电磁场，以及获取被干扰电子设备的测试信息，并根据测试信息得到被干扰电子设备的抗电磁干扰能力。该系统可产生超过预设强度的电磁场，对置于发射天线近场范围的电子设备进行干扰，检测被干扰电子设备的抗电磁干扰能力。