- 专利标题: 光纤绝缘子界面性能测试装置以及界面性能评价方法
-
申请号: CN202311659344.9申请日: 2023-12-06
-
公开(公告)号: CN117347912A公开(公告)日: 2024-01-05
- 发明人: 尹芳辉 , 王黎明 , 蔡德瑄 , 符建兵
- 申请人: 清华大学深圳国际研究生院
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城清华校区A栋二楼
- 专利权人: 清华大学深圳国际研究生院
- 当前专利权人: 清华大学深圳国际研究生院
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城清华校区A栋二楼
- 代理机构: 深圳新创友知识产权代理有限公司
- 代理商 谢林红
- 主分类号: G01R31/52
- IPC分类号: G01R31/52
摘要:
本发明公开了一种光纤绝缘子界面性能测试装置以及界面性能评价方法,包括局部泄漏电流测量模块及测试模块;局部泄漏电流测量模块包括平行设置在光纤绝缘子样品两端的高压端电极和低压端电极;测试模块包括用于给局部泄漏电流测量模块提供电压的高压电源,串联用于采集高压电源的输出电压值与测试的泄漏电流值的数据采集装置,串联用于保护数据采集装置采集的高压电源产生的过压和过流影响的保护电路以及串联用于将采集的输出电压值以及测试的泄漏电流值进行处理与统计的数据处理装置。本发明能够综合考察光纤界面处的局部泄漏电流值与整体泄漏电流值,对光纤绝缘子界面性能进行更加精准的评价。
公开/授权文献
- CN117347912B 光纤绝缘子界面性能测试装置以及界面性能评价方法 公开/授权日:2024-03-22