Invention Publication
- Patent Title: 一种用于互感器自校准数据的过程管控方法及装置
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Application No.: CN202311132281.1Application Date: 2023-09-04
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Publication No.: CN117370829APublication Date: 2024-01-09
- Inventor: 赵乾丞 , 汪泉 , 张军 , 周峰 , 殷小东 , 雷民 , 王斌武 , 祁欣 , 陈卓
- Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司武汉分院
- Applicant Address: 北京市海淀区清河小营东路15号
- Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,中国电力科学研究院有限公司武汉分院
- Current Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,中国电力科学研究院有限公司武汉分院
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清河小营东路15号
- Agency: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- Agent 姜丽楼
- Main IPC: G06F18/24
- IPC: G06F18/24 ; G06F18/27 ; G06F16/248 ; G06F16/2458 ; G01R35/02

Abstract:
本发明公开了一种用于互感器自校准数据的过程管控方法及装置,包括:获取互感器的第一自校准数据,以及影响所述互感器准确度的外部影响因素数据;根据所述第一自校准数据和外部影响因素数据,构建用于消除系统性偏差的线性多元回归模型;通过所述线性多元回归模型,剔除所述第一自校准数据中因外部影响因素导致的系统偏差性数据,获取互感器的第二自校准数据;根据所述第二自校准数据,构建互感器自校准数据的统计过程控制图;通过所述统计过程控制图,对待过程管控的互感器的自校准数据进行监控,获取待过程管控的互感器自校准装置的工作状态。提升了互感器误差判断的效率和准确性。
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