一种用于互感器自校准数据的过程管控方法及装置
Abstract:
本发明公开了一种用于互感器自校准数据的过程管控方法及装置,包括:获取互感器的第一自校准数据,以及影响所述互感器准确度的外部影响因素数据;根据所述第一自校准数据和外部影响因素数据,构建用于消除系统性偏差的线性多元回归模型;通过所述线性多元回归模型,剔除所述第一自校准数据中因外部影响因素导致的系统偏差性数据,获取互感器的第二自校准数据;根据所述第二自校准数据,构建互感器自校准数据的统计过程控制图;通过所述统计过程控制图,对待过程管控的互感器的自校准数据进行监控,获取待过程管控的互感器自校准装置的工作状态。提升了互感器误差判断的效率和准确性。
Patent Agency Ranking
0/0